2016 г., Том 21, № 2, с.53-62

Представлены две технологически независимые метрики для оценки маскирующих свойств логических схем. Обе метрики опираются на подсчет наблюдаемости вентилей схемы, обеспечивая определенный компромисс между точностью оценок и вычислительной сложностью, сводя экспоненциальную сложность относительно числа вентилей схемы к линейной зависимости. Первая метрика представляет собой обобщенный коэффициент логической чувствительности схемы, не зависящий от вероятности сбоя вентиля, что позволяет использовать его на ранних этапах проектирования сбоеустойчивых схем. Предложен усредненный метод подсчета сбоеустойчивости, суть которого заключается в расчете верхних и нижних границ для полинома ошибки на основе рассчитанных наблюдаемостей вентилей. На наборе benchmark схем ISCAS’85 проведены исследования по оценке точности предлагаемого метода в сравнении с традиционными подходами. Полученные оценки свидетельствуют о высокой эффективности предложенного метода.